Presse / Medien

Das Presseteam des Fraunhofer-Instituts für Sichere Informations­technologie SIT unterstützt Journalistinnen und Journalisten bei ihrer Recherche zu Cybersicherheit und Daten­schutz. Wir vermitteln Forschende für Interviews, Hintergrundgespräche, Statements und Live-Schalten. Mit unseren Pressemitteilungen informieren wir über aktuelle Forschungsergebnisse, Studien und neue Sicherheits­lösungen aus dem Institut. 

Sie haben eine Interview-Anfrage, benötigen zusätzliches Bildmaterial oder möchten sich als Pressevertretung für eine Veranstaltung akkreditieren? Schreiben Sie einfach eine Mail an presse@remove.this.sit.fraunhofer.de und wir melden uns so schnell wie möglich.

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M.A. Oliver Küch
M.A. Oliver Küch

Unsere Expertinnen und Experten

Dr.-Ing. Steven Arzt

Dr. Steven Arzt

Softwaresicherheit, Cybersecurity & Space, Unternehmenssicherheit

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Dr. Michael Kreutzer

Dr. Michael Kreutzer

Cybersicherheit und Kommunen, Post-Quantum-Kryptografie, Kryptoagilität

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Dr. iur. Annika Selzer

Dr. Dr. Annika Selzer

IT Law und Daten­schutz

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Prof. Dr. Martin Steinebach

Prof. Martin Steinebach

Deepfake-Erkennung, Altersverifikation, Mediensicherheit, IT-Forensik

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Prof. Dr. Michael Waidner

Prof. Michael Waidner

Cybersicherheitspolitik, aktive Verteidigung, Forschungszentrum ATHENE

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Pressemitteilungen

iPhone weg? Passwörter weg!
iPhone-Schwachstelle zeigt, Verschlüsselung allein schützt nicht – Unternehmen müssen bei Geräteverlust schnell reagieren.
Embedded World: Fingerabdruck für Hardware
Ob Auto, Unterhaltungselektronik oder Elektrogeräte - die meisten Produktinnovationen verdanken wir eingebetteten Systemen, die wichtige Steuerungsfunktionen übernehmen. Doch gerade diese intelligenten Bauteile werden von Produktfälschern gerne kopiert. Der Diebstahl von Ideen und Know-how kostet Unternehmen pro Jahr weltweit schätzungsweise 250 Milliarden Dollar. Chipbasierte Systeme lassen sich jedoch schützen. Besuchen Sie uns auf der Embedded World 2011 (203/Halle 11) und informieren Sie sich über neueste Trends und Entwicklungen beim Produktschutz von eingebetteten Systemen. Auf der Messe zeigen wir unsere neueste Entwicklung zum Hardware-Fingerabdruck mit Hilfe Physical Unclonable Functions (PUFs). Mit dieser neuen Technik lassen sich Bauteile individuell und fälschungssicher markieren, automatisiert prüfen und jederzeit schnell und eindeutig identifizieren.
Fingerabdruck macht Chips fälschungssicher
Chips und Elektronikbauteile geraten immer stärker ins Visier von Produktfälschern: Attacken auf Hardware-Bausteine sind mittlerweile an der Tagesordnung. Eine spezielle Sicherheitstechnologie nutzt individuelle Materialeigenschaften von Komponenten, um daraus einen digitalen Schlüssel zu erzeugen. Bauteile werden damit identifizierbar,­ denn die einzigartige Struktur zu kopieren ist unmöglich. Einen Prototypen stellen Fraunhofer-Forscher auf der Messe embedded world vom 1. bis 3. März in Nürnberg vor.
Mr. SIM – Fraunhofer-SmartCard-Preis 2011 für Dr. Klaus Vedder
Dr. Klaus Vedder gewinnt den Fraunhofer-SmartCard-Preis 2011. Ausgezeichnet wird der studierte Mathematiker für seine Verdienste um die SIM-Karte. Vedder, so die Jury in ihrer Begründung, prägte die Entwicklung des Subscriber Identity Modules (SIM) wie kaum jemand anderes und trage große Verantwortung für den wirtschaftlichen Erfolg der SIM, die eine herausragende Rolle für die mobile Sicherheit spielt und heute von nahezu jedem Menschen in der Welt genutzt werde. Übergeben wurde der Preis am Montagabend beim Fraunhofer-SmartCard-Workshop in Darmstadt.
Gute Karten / Experten-Workshop zu intelligenten Ausweisen
Im neuen Personalausweis oder in der mobilen Kommunikation, Chipsysteme übernehmen wichtige Funktionen in unserem Alltag. Über Sicherheit und Weiterentwicklung von Smartcards und der dazugehörigen Infrastrukturen diskutieren Experten am 2. und 3. Februar 2011 beim SmartCard-Workshop des Fraunhofer SIT in Darmstadt. Schwerpunktthemen in diesem Jahr sind die Sicherheit des neuen Personalausweises sowie Trends und Konzepte für Telekommunikation und mobile Anwendungen.